logo logo

苏 州 探 博 电 子 有 限 公 司

  • 首页
  • |
  • 产品中心
    • 印刷电路板设备
    • 半导体设备
    • 新能源设备
    • 仪器仪表
    • 实验室设备
    • 设备配件
  • |
  • 关于公司
  • |
  • 联系我们
  • |
  • 资讯中心
    • 行业新闻
    • 技术手册
中文
  • English
RWI-MK3 for Wafer Bump自动光学检测设备
    常温晶片接合装置
      激光切割开槽设备
        NSW-B300 非接触式wafer表面形貌测量
          X 射线显微镜CoreTOM
            全自动切割机(双轴)
              12寸全自动精密划片机(双轴)
                12英寸半自动精密划片机(单轴)
                  植球机
                    TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电子显微镜
                      双束电镜(FIB-SEM)TESCAN SOLARIS
                        晶圆等离子清洗机
                          等离子涂层设备
                            UV解胶机
                              半导体/ FPD /工业检查显微镜
                                6-8寸贴膜机
                                  12寸贴膜机
                                    3D激光扫描显微镜
                                      数码显微镜
                                        AgilentB2900A系列精密电源/测量单元
                                          半自动探针台
                                            手动探针台
                                              高低温试验箱
                                                AMB5600射频测试
                                                  AMB7600射频测试
                                                    苏州探博电子有限公司
                                                    Suzhou Toubo Electronic Co., LTD
                                                    淘宝网
                                                    阿里巴巴
                                                    马可波罗
                                                    仪器仪表

                                                    备案图标.png 苏公网安备 32050602011523号


                                                    ©2021 - 苏州探博电子有限公司 版权所有

                                                    凡科建站提供技术支持管理登录苏ICP备18068762号-1