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RWI-MK3 for Wafer Bump自动光学检测设备
    RSH-120 for Substrate 2D/3D Bump
      RSH-230 for Substrate 2D/3D Warpage
        常温晶片接合装置
          激光切割开槽设备
            NSW-B300 非接触式wafer表面形貌测量
              X 射线显微镜CoreTOM
                全自动切割机(双轴)
                  12寸全自动精密划片机(双轴)
                    12英寸半自动精密划片机(单轴)
                      植球机
                        TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电子显微镜
                          双束电镜(FIB-SEM)TESCAN SOLARIS
                            晶圆等离子清洗机
                              等离子涂层设备
                                UV解胶机
                                  半导体/ FPD /工业检查显微镜
                                    6-8寸贴膜机
                                      12寸贴膜机
                                        FT160 系列镀层测试仪
                                          3D激光扫描显微镜
                                            数码显微镜
                                              FT230 系列自动化镀层测试仪
                                                AgilentB2900A系列精密电源/测量单元
                                                  半自动探针台
                                                    手动探针台
                                                      高低温试验箱
                                                        AMB5600射频测试
                                                          AMB7600射频测试
                                                            苏州探博电子有限公司
                                                            Suzhou Toubo Electronic Co., LTD
                                                            淘宝网
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