GATS-333

产品用途：

GATS-333 TDR测试系统支持对高端半导体封装(如C4封装、FCB-GA、FC-CSP等)的单端和差分端阻抗测量。

产品特点：

· 为了符合C4包装上的差分阻抗测量，GATS-333不仅配备了X、Y、Z和0的双探测头，还配备了DUT旋转台，可覆盖任何角度的测试     点，并集成了4个视觉摄像系统，方便地检查探头接触状态。

·TDR标配keysight N1000A示波器，频率为50GHZ

·基板装载使用标准JEDEC-TRAY